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普析 XD6/7系列衍射仪
X射线光源的数字控制XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。
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普析通用 XD-6/7系列衍射仪
XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试衍射线强度之间进行均衡选择,自行设定需要的试验条件
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安捷伦 ICP-OES 附件 高级阀系统 (AVS) 6/7
安捷伦 6 或 7 通高级阀系统 (AVS) 可降低每次分析成本并使您的安捷伦 ICP-OES 分析效率提高一倍以上。7 通阀系统使内标能够直接连接至阀。通过分析过程中精准气泡注入控制
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普析多晶X射线衍射仪 XD-6/7系列
普析多晶X射线衍射仪 XD-6/7系列XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试衍射线强度之间
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梅特勒托利多 密度计 D6
样品和不合格样品物料号: 3047490规格 - 密度计 D6测量范围(g/cm³)0 g/cm3 – 3 g/cm3准确度± (g/cm³)0.000005 g/cm3重复性(g/cm
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梅特勒托利多超越系列密度计D4/D5/D6
梅特勒托利多超越系列密度计适合各种行业,可测量几乎任何样品且准确性非常高,甚至可在整浴缸的水中检测一滴威士忌。高达6位小数的测量准确度,直观的操作和模块化的工作流程,可轻松避免不准确性并获得可重复的
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天平梅特勒托利多XP6U/XS3DU/XP6 可检测天平
梅特勒托利多瑞士XP/XS系列微量/超微量天平XP6U/XS3DU/XP6可用于测定天平,台秤,适用于GWP项目。并且参考多项行业标准梅特勒托利多。可应用于多个行业领域。 介绍
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天平XP6U/XS3DU/XP6梅特勒托利多 可检测台秤
梅特勒托利多天平XP6U/XS3DU/XP6参考多项行业标准梅特勒托利多。完成天平,台秤的检测。可以用在多个行业领域中的GWP项目。 简介 仪器简介: 梅特勒托利多创新的微量和超
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普析 采用细分驱动电源技术 XD6/7系列衍射仪
X射线光源的数字控制XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。
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天平XP6U/XS3DU/XP6梅特勒托利多 适用于GWP
梅特勒托利多天平XP6U/XS3DU/XP6可用于测定天平,台秤,适用于GWP项目。并且参考多项行业标准梅特勒托利多。可应用于多个行业领域。 简介 仪器简介: 梅特勒托利多
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